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衍射儀薄膜測量裝置

衍射儀薄膜測量附件由多層膜反射鏡和三維薄膜樣品架組成,實現(xiàn)對大于20nm薄膜樣品測量??蓪崿F(xiàn)對薄膜樣品進行薄膜反射分析XRR(針對多晶、單晶多層薄膜厚度、密度、粗糙度進行精確分析)、薄膜掠入射分析GIXRD(精確分析多層膜中材料的組成、次序、取向等)。

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三維薄膜樣品架

四維薄膜樣品架與測角儀安裝設(shè)有定位裝置,激光測距定位衍射面,安裝、拆卸方便,即插即用,無需調(diào)整光路。最大可測量樣品尺寸:φ70×10mm(或按用戶要求設(shè)計可以測量樣品尺寸)、樣品升降精度(Z)軸:1μm。



范    圍
參    數(shù)
PSI角
轉(zhuǎn)動范圍0-70°
轉(zhuǎn)動精度0.1°
CHI角
轉(zhuǎn)動范圍±5°
轉(zhuǎn)動精度0.05°
Z軸
距離0~15mm
精度0.001mm


平行光源由多層膜反射鏡(G?bel Mirror)和腔體及腔體調(diào)整機構(gòu)組成,安裝機構(gòu)與衍射儀前索拉狹縫體實行互換,平行光源在出廠前已經(jīng)調(diào)整好了,操作人員不需要調(diào)整。

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G?bel Mirror鏡平行光發(fā)散度小于0.028°,反射效率大于70%



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薄膜樣品XRR衍射譜圖



圖片3_副本.png

搖擺測量衍射譜圖



圖片4_副本.png

薄膜掠入射分析GIXRD測量



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