Rietveld
Rietveld 分析
在1969年H.M.Rietveld提出的全譜擬合結(jié)構(gòu)精修是晶體材料結(jié)構(gòu)分析極具價值的方法?？色@得樣品各種結(jié)構(gòu)信息包括：物相含量，物相結(jié)構(gòu)、晶胞參數(shù)、晶體尺寸等。與傳統(tǒng)定量方法相比，Rietveld分析是最先進的，并且無需標(biāo)準樣品即可得到含量在1%以內(nèi)物相的精確結(jié)果。在此之前，使用粉末衍射進行混合樣品無標(biāo)精確定量分析是不可能的。
推薦：
DX-2700BH X射線衍射儀
DX-2800 高分辨X射線衍射儀
